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DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO放大图片

产品价格:询价   元(人民币)
上架日期:2012年11月7日
产地:日本
发货地:深圳  (发货期:当天内发货)
供应数量:不限
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品牌:日本SENKO产地:日本
价格:询价人民币/台规格:DAISI

简要说明:DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO

详细介绍:

DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO产品概述:

DAISI是业界公认的目前测量精度、重复性最好的干涉仪,它具有精度高,再现性好,易携带的特点,与计算机连接只需要一根USB线,免除了连线的繁琐和不便。

DAISI的表面没有任何移动部件,因而极大的避免了由于运动部件的碰撞而带来的测量不准确。同时,由于其独特的长臂转动的角度变换设计,使得在测量APC时的8度定位极其准确。DAISI在测量时对环境的震动很不敏感,即便是在测量时用手强烈的敲击台面,也不会对干涉条纹产生眼睛感觉到的变化。这样就使得它非常适合在工厂和现场检测。另外,它的一键测量,自动对焦又使它具备了很高的效率。如果另配上MT-RJ模块,就可完全单芯和双芯连接器的同机测量。
 

DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO产品特点:

非接触式、无外接运动部件、震动非敏感

耐用的多种连接器夹具(PC/APC)

自动连接器支持、自动对焦、自动校准

IEC/Telcordia标准、Data-Pixe独有的快速检测软件(2.5秒)

用户可自行设定程序、便于携带,适用于工厂和现场检测

简单的一键式控制、单独的连接线(USB2.0)
 

DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO技术指标:

测量参数(单位) 范围 精度/准确度/再现性

曲率半径 (mm) 3~100mm 5%/0.1%/0.2%

光纤球面高度 (nm) +/-160nm 10um/1.5um/2um

光纤平面高度 (nm) +/-160nm 10um/1um/1.5um

偏轴量 (um) 0~300mm 5um/0.5um/1um

球面定点方位角(Deg.) 0~360 N/A

角度误差 (Deg.) 根据定点计算 N/A

定位键角度误差(Deg.) 根据定点计算 N/A

插芯粗糙度 (nm) 0~160nm 10nm/2nm/2nm

光纤粗糙度 (nm) 0~160nm 10nm/2nm/2nm

 

准确性和再现性:1∑计算机数值

准确性由50次的连续计算(插芯固定)测量值计算得出

再现性误差由50次的插入/拔出测量值计算得出


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