详细介绍: 晶片表面缺陷测试仪厂家 ----各型号晶片表面缺陷测试仪可以根据客户的特殊需求,为客户定制设备。网上图片仅供参考,设备价格面议,也可供客户现场操作、打样和详细了解,欢迎来电或来人考察。国内用户送货上门,免费培训,一年保修,终生上门服务。三工光电为任何行业领域设计激光设备,无论您有什么需求,在三工光电都可以找到一款适合您的机型。三工光电的工程师将为每一位客户提供一整套独一无二的解决方案,我们将从加工质量、生产效率、生产成本、承受价位等方面作为参考因素,选配出最适合您需要的激光设备!请立即拨打电话:027-59722666-8012手机:15671696592或QQ:1316003860 在线咨询
晶片表面缺陷测试仪产品简介 武汉三工光电太阳能电池电致发光EL缺陷检测仪分为在线、离线型单片组件缺陷检测仪,广泛应用于单晶、多晶及薄膜太阳能电池片及组件的缺陷检测,包括层压前、层压后、串焊等引起的缺陷成像分析; 太阳电池缺陷检测仪是依据太阳电池的电致发光原理而研制的用于太阳电池组件内部缺陷检测的专用仪器。根据太阳电池、组件中电池片发光亮度的差异清楚地显示组件中的裂片(包括隐裂和显裂)、劣片及焊接缺陷。
我们提供全套的太阳能电池片、组件缺陷检测仪器及方案,详细请与我们联系。 晶片表面缺陷测试仪设备分类: 1.太阳能电池片电致发光EL缺陷检测仪: 手动型EL缺陷检测仪 研发型自动式EL缺陷检测仪 产线批量检测型EL缺陷检测仪 2.太阳能电池组件电致发光EL缺陷检测仪: 全自动层压前组件EL缺陷检测仪 全自动层压后组件EL缺陷检测仪 半自动离线型组件EL缺陷检测仪 手动型离线型组件EL缺陷检测仪 电池片串焊组件EL检测仪 其他检测要求可根据客户要求定制。
晶片表面缺陷测试仪技术参数: 我公司提供专业的太阳能电池缺陷电致发光EL缺陷检测仪,包括:在线型、离线型两种,用于太阳能组件和单片的缺陷分析;
型号规格 |
EL140S-M |
有效测试面积 |
1200mm X 2100mm |
分辨率 |
140万像素或600万像素 |
灵敏度 |
可检测出裂纹宽度小于0.2μm |
测试时间 |
1s—60s自由设定 |
测试方式 |
无接触式 |
电源参数 |
单相220V 10A 最大加载电压80V,最大加载电流 10A |
配置 |
测试机台(含红外成像仪)、电脑、专业软件 |
晶片表面缺陷测试仪主要特点: 在线inline、离线offline单片组件EL缺陷测试仪; 高分辨双CCD设计,可对失效区域进行高分辨图像放大检测; 高分辨CCD可定位图像分析; EL电致发光图像数据采集 整合电接触系统; 测试太阳能Cell尺寸:up to 6 inch×6 inch,(max.160mm x 160mm); 整合测试暗室; 达到3个busbars连接; 配备冷却系统; 电源:-10V 到+10V/10A; 单晶、多晶太阳能电池检测; 可扩展外加电源; 配备专业测试分析软件:支持操作系统Windows XP,Win 2k,Windows 7,Windows Vista;
晶片表面缺陷测试仪测试功能: 显裂、隐裂、暗裂; 微裂纹; 结晶缺陷; 焊接缺陷; 失效Cells。
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