详细介绍：美国JDSU EST-120,EST-125,EDT-130,EDT-135数据测试仪产品介绍：
JDSU EST-120/125, EDT-130/135 E1/数据业务测试系列仪表为数字网络的安装、开通和维护提供了一个可扩展的、能够满足未来测试需求的解决方案。E系列仪表可以对众多的数字设备进行成帧和非成帧的测试，确保了技术人员能够快捷和高效的完成工作。E系列仪表结构紧凑，结实而轻便，是工程现场测试的首选。它可以通过软件配置选项支持多种测试功能，包括脉冲波形分析、抖动和帧中继测试，所有的功能都在相同的用户界面下实现。 EDT系列仪表的功能与 EST 系列仪表在 E1 电路的测试上是一样的。所不同是 EDT 系列仪表增加了数据电路和复用器的测试。
·EST/EDT系列仪表设计以用户为本，小巧轻便，便于手持与携带，具有带背景光的大LCD显示屏，能够适用于任何测试环境
· 通过灵活的软件配置能力，提供一个可扩展的E1与数据测试解决方案。能够通过不同的软件配置进行E1业务（帧中继，GSM）与子速率复用系统（X.50、HCM、V.110）测试
·具有自动配置功能的直观用户界面和大而清晰的屏幕显示，使用户能够对电路执行快速评估
·对E1的平衡与非平衡电路进行物理层的完整测试，包括BERT、VF、环路延迟、信号电平、脉冲形状与抖动
·提供基于ITU-T G.821、G.826与M.2100建议的服务质量（QoS）测试
·通过获得专利的Gelbricht同步方法，在QoS测试中准确区分比特误码与比特滑码问题
·快速故障识别 - 测试结果以一种简洁的、图形化的格式来显示
·结果存贮与打印 - 仪表具有8个存贮区用于存贮配置与测试的结果，或通过串口连接打印机与PC
EST/EDT系列仪表功能列表
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E1测试仪
EST-120 EST-125 |
E1与数据测试仪
EDT-130 EDT-135 |
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常规特性 |
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远端操作和控制 |
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自动配置 |
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测试图案，固定、可编程和ITU-T型 |
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可下载软件升级 |
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测试配置和结果存储，打印机接口 |
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可编程测试时间，LED 告警指示 |
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屏幕背景光可调，大屏幕显示 |
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E1电路测试 |
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平衡和非平衡G.703 Tx和Rx |
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端接和桥接方式 |
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成帧和非成帧测试信号的产生 |
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n和m x 64 kbps时隙监视 |
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生成码型插入到时隙中 |
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G.821,G.826,M.2100分析（IS与OOS） |
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错误与告警的生成和分析 |
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以不同的电平和频率生成 PCM 音频 |
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PCM解码和音频输出 |
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对全部30个信道的CAS监测 |
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每个信道CAS历史数据分析 |
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直通模式的E1信号 |
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n x 64 kbps 分插 |
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m x 64 kbps 分插 |
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Si, Sa, A/E bit, NFAS与MFAS生成和监视 |
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Tx 频率偏移 |
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成帧和非成帧环回时延 |
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v |
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主复用器测试 |
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将Pattern加入到MUX信道，监测E1信号 |
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将Pattern加入到E1信号，监测MUX信道 |
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X.50复用器测试 |
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数据通信电路测试 |
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X.21, V.11/RS422接口 |
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V.24/RS232接口（同步和异步） |
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V.35, V.36/RS449, EIA530接口（带适配器） |
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美国JDSU EST-120,EST-125,EDT-130,EDT-135技术指标：
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接口 |
测试码型 |
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G.703 |
2E6–1,2E9–1,2E11–1,2E15–1,2E20–1,2E23–1 |
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X.21/V.11 |
1和0交替，全1，全0 |
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V.24 (RS232) |
8与16比特可编程字 |
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V.35 通过适配器 |
误码插入 |
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V.36 (RS449) 通过适配器 |
比特，代码，FAS，
CRC误码 |
单个误码，误码率或误码频率 |
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EIA530 通过适配器 |
时钟 |
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物理连接 |
G.703 发射时钟源2048 kbps 与同向 |
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3脚CF连接器 (120 Ω 平衡) |
内部时钟，外部时钟，来自RX 的时钟 |
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BNC连接器 (75 Ω 非平衡) |
打印机与远端操作 |
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15路D型 (100 Ω 平衡) |
接口 V.24，DTE，异步 |
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25路D型 |
波特率 300,600,1200, 2400,9600,19200, 38400 |
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G.703 测试模式 |
前面板 |
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RX模式 |
显示 |
42 字符x 16 行LCD，带有背景光 |
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帧格式 |
PCM30, PCM30C, PCM31,
PCM31C 或未成帧 |
LEDs |
2个总缆，14个告警／误码，选项与低电平 |
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G.703 线路代码 |
HBD3, AMI, 同向 |
键盘 |
数字键盘，4个光标，2个对比度，主菜单，6个软键，alt，开与关 |
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V.11 分出 |
n x 64 kbps, m x 64 kbps |
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RX/TX |
存储／存储器 |
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作为RX附加上： |
BER 测试码型发生
n x 64 kbps, m x 64 kbps |
8 测试配置存储与8个测试结果存储器 |
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自检 |
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V.11分插 |
分出或插入n与m x 64 kbps
分出与插入n x 64 kbps |
打开电源时全面自检 |
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语言 |
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2 Mbps内部时钟偏移高至 ±150ppm |
英语，德语，法语，西班牙语，意大利语，土耳
其语与葡萄牙语 |
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可编程的Si, Sa, A与E比特与NMFAS |
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环路延迟模式 |
电源 |
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成帧与未成帧的2 Mbps |
内置电源 |
可充电NiCd电池
(8到10小时工作时间) |
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范围 |
0-10s |
外部电源 |
外部电源适配器／充电器 |
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分辨力 |
1μs |
自动关闭之前显示低电池电量告警 |
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MUX/DEMUX模式 |
重量／尺寸 |
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G.703接口作为RX/TX模式 |
重量 |
大约1.55 kg |
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对V.11, V.24, V35, V.36的未成帧的DTE仿真 |
尺寸(hxdxw) |
72 x136 x195mm |
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监测模式 |
软件选件（需另外付费） |
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同时监测与显示帧与复帧中的任何时隙 |
French S/C bits （BN 4562/00.11） |
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同时监测与生成NFAS的Si, Sa, A与E比特 |
X.50 （BN 4535/00.14） |
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同时监测与生成NMFAS |
GSM （BN 4534/00.15） |
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电平与频率模式 |
G.826 （BN 4534/00.34） |
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对一个时隙内的正弦信号的PCM生成与测量
（ITU-T G.711建议中的A-律） |
全1／全0直方图 （BN 4534/00.20） |
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M.2100 （BN 4534/00.13） |
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Tx频率范围 |
5 Hz到3998 Hz |
噪声测量 （BN 4534/00.23） |
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Tx电平范围 |
–55 dBm0到+3 dBm0 |
V接口状态监测仪 （BN 4535/00.28） |
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Rx电平测量 |
–80 dBm0到+5 dBm0 |
V.110 （BN 4535/00.32） |
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X.50 测试模式 |
HCM （BN 4535/00.35） |
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RX/TX，直通，D&I 以及 MUX/DEMUX |
帧中继（增强型） （BN 4535/00.41） |
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分区2与3成帧 |
抖动 （BN 4534/00.42） |
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n x 600, 19.2, 48 kbps中的测试码型插入／评估 |
数据通信 （BN 4534/00.44） |
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X.50帧分析 |
V时延 （BN 4534/00.48） |
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可编程A-H比特 |
French S/C bits （BN 4534/00.11） |
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大频率偏移 （BN 4534/00.19） |
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PCM告警分析 （BN 4534/00.26） |
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扩展的PRBS （BN 4534/00.36） | |
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