详细介绍: BSBY_f003
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如果像素是storage on gete的设计,可先用激光将TFT与像素电极的连接切断,再在储存电容处,以激光熔接将此像素电极与前一条扫描线连接在一起,所以此像素电极的电压大部分时间是扫描线关闭TFT的负电压,因此可在normally white型的TFT LCD面板上写入电压,而变成一个暗点缺陷。
像素电极若与扫描线短路,则不论write cycle所写入的电荷为何,在读出时变成是以扫描线电压源提供电流送入电荷感测电路。这种缺陷,在normally white型的TFT LCD面板上,由于该像素电极与共电极之间一直相差了一个大的负电压,因此形成一个暗点缺陷。
另外,静电保护的方式也会影响这个测试方法的可行性,如果是以所述的保护方式将信号线短路,显示屏模组便无法分辨出电荷来源来判断缺陷像素的位置。因此,在设计TFT LCD面板像素阵列之外的部分,要同时考虑静电保护与测试方法。
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