详细介绍:
SWT-7100III涂层测厚仪
SWT-7000III SWT-7100III SWT-7200III
FN-325 FE-2.5 FE-2.5L FE-2.5LWA FE-0.6PEN FE-10 FE-20
NFE-2.0 NFE-2.0L NFE-06 NFE-8
SWT-7000III系列+FN325探头:可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。
新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品(7000、8000、9000)可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。
SWT系列探头可互换。
◆ 两用型 : FN-325
◆ 铁材用 : Fe 系列
◆ 非铁材 : NFe 系列
探测头型号
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FN-325
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测量方式
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电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别)
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测量范围
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铁底材:0~3.00mm、非铁底材:0~2.50mm
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表示分辨率
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1μm:0~999μm的切换(铁·非铁共通)
0.1μm:0~400μm(铁·非铁共通)
0.5μm:400~500μm(铁·非铁共通)
0.01mm:1.00~3.00mm(铁底材)
0.01mm:1.00~2.50mm(非铁底材)
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测量精度
(平滑表面)
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0~100μm::1μm(铁·非铁共通)
或者是指示值的±2%以内
101μm~3.00mm:±2%以内(铁底材)
101μm~2.50mm:±2%以内(非铁底材)
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探测部
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1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g
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选择产品
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V形探测头套有3种(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)
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附属品
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标准校正板、试验用零校正板、(铁用·非铁用)
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测量对象
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铁底材:铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、
电镀(电解镍除外)等
非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等
一般较普遍的测量物用
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SWT-7000Ⅲ系列机型
机型
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SWT-7000Ⅲ
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SWT-7100Ⅲ
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SWT-7200Ⅲ
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测量范围
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连接的探测头不同测量范围也不同。
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显示方式
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液晶显示LCD(数据·提示信息)、背光灯
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检量线校正
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2点校正方式(零校正、标准校正)
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检量线存储
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铁、非铁各1根
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10根
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测量值存储
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—
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20,000点
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数据传送
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—
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USB
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USB
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统计功能
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—
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—
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内藏
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附加功能
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●背光灯 ●测量模式的切换(普通/连续) ●检量线、校正值的删除
●自动关机功能(约3分以上不操作时,机器会自动关机) ●分辨率的切换
●上下限值的设定(SWT-7200Ⅲ)
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电源
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单3电池 ×2
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单3电池 ×2 专用电源线
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使用温度
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0~40C°(不结露)
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机体尺寸·重量
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72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g
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附属品
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干电池、收纳袋子
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干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件(CD)
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追加产品
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铁材金属用探测头(Fe)、非铁材金属用探测头(NFe)
铁·非铁材用探测头(FN-325)
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SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头(1)(Fe)
型号
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Fe-2.5/2.5L
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Fe-2.5LwA
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Fe-0.6Pem
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测量方式
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电磁感应式
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测量范围
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0~2.50mm
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0~600μm
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表示分解率
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1μm:0~999μm
切换
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
0.01mm:1.00~2.50mm
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1μm:0~600μm
切换
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
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测量精度
(平滑面)
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0~100μm:±1μm
又或者时显示值的±2%以内
101μm~2.50mm:±2%
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0~100μm:±1μm
又或者时显示值的±2%以内
101μm~600μm:±2%
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探测部
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1点定压接触式
V形口套头
2.5:φ13×48mm
2.5L:18×23×67mm
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1点定压接触式
测量部:约20×57mm
全长:约550~ 1.550mm
(伸缩式)
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1点定压接触式
Φ5.6×94mm
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选择产品
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V形套头/—
(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)
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—
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—
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附属品
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标准校正片
试验用零校正板
(铁用)
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标准校正片
试验用零校正板(铁用)
收纳袋子
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标准校正片
试验用零校正板
(铁用)
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测量对象
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铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层(电解镍的电镀层除外)等等
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铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。
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铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。
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SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头(2)(Fe)
型号
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Fe-10
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Fe-20
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测量方式
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电磁感应式
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测量范围
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0~10mm
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0~20mm
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表示分解率
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1μm:0~999μm
0.01mm:1~10mm
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1μm:0~999μm
0.01mm:1~5mm
0.1mm:5~20mm
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测量精度
(平滑面)
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0~3mm:±(5μm+显示值的3%)
3.01mm:显示值的±3%
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探测部
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1点定压接触式
V形口套头
φ18×47mm
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1点定压接触式
V形口套头
φ35×59mm
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选择产品
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—
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—
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附属品
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标准校正片、试验用零校正板(铁用)
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测量对象
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铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用
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铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用
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探测头要根据需要另外购买。
SWT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头(NFe)
型号
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NFe-2.0/NFe-2.0L
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NFe-06
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NFe-8
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测量方式
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涡电流式
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测量范围
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0~2.00mm
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0~600μm
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0~8mm
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表示分解率
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1μm:0~999μm
切换
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
0.01mm:1.00~2.00mm
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1μm:0~600μm
切换
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
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1μm:0~999μm
0.01mm:1~8mm
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测量精度
(平滑表面)
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0~100μm:±1μm
又或者时显示值的
±2%以内
101μm~2.00mm:
±2%以内
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0~100μm:±1μm
又或者时显示值的
±2%以内
101μm~600μm:
±2%以内
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0~100μm:±1μm
±(±1μm+显示值的±2%)
101μm~8mm:
±2%以内
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探测部
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1点定压接触式
V形口套头
2.0:φ13×47mm
2.0L:18×23×67mm
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1点定压接触式
V形口套头
φ11×48mm
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1点定压接触式
V形口套头
φ35×61mm
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选择产品
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V形套头/-
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-
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-
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附属品
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标准校正片、试验用零校正板(非铁用)
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测量对象
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铝、铜等非磁性金属底材
上的绝缘性皮膜等一般普
通测量物用。
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铝、铜等非磁性金属底
材上的绝缘性皮膜等
细小的圆棒、细管、小
物件等的高安定性用。
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铝、铜等非磁性金属
底材上的绝缘性皮膜等
比较厚的测量物用。
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探测头要根据需要另外购买。
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