Leica EM TXP 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。
  在Leica EM TXP之前，针对目标区域进行定点切割，研磨或抛光等通常是一项耗时耗力，很困难的工作，因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用Leica EM TXP，此类样品都可被轻易处理完成。
  另外，借助其多功能的特点，Leica EM TXP也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的*效的前制样工具。
  与观察体系合为一体
  看清细节
  为微尺度制样而生
  在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区城
  将样品固定在样品悬臂上，在样品处理过程中，通过体视显微镜可对样品进行实时观察，观察角度0°至60°可调，或者调至-30°，则可通过目镜标尺进行距离测量。Leica EM TXP还带有明亮的环形LED光源照明，以便获得更佳的视觉观察效果。
  ★★★ 对微小目标区域进行精.确定位和样品制备
  ★★★ 通过立体显微镜实现原位观察
  ★★★ 多功能化机械处理
  ★★★ 自动化样品处理过程控制
  ★★★ 可获得平如镜面的抛光效果
  ★★★ LED环形光源亮度可调，4分割区段可选
  TXP精研一体机
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  https://www.chem17.com/st412007/erlist_2079718.html