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产品参数 | |||
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测量时间 | 60s(可调) | ||
可测厚度 | 0.005-50μm | ||
可测层数 | 5层以内 | ||
分析含量 | 2ppm-99.9 | ||
产地 | 江苏昆山 | ||
仪器尺寸 | 576mm*495mm*545mm | ||
仪器重量 | 90Kg | ||
可售卖地 | 全国 | ||
类型 | X荧光光谱仪 | ||
型号 | Thick 800A |
镀层厚度测量/镀层元素种类、含量分析
本仪器专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求,特别设计该款仪器,
其特点可以概括为以下几点:
1.上照式????????2.测试组件可升降 ???? 3.高精度移动平
4.小孔准直器 ??????5.高分辨率探测器 ???? 6.可视化操作
7.自动定位高度 ?????8.自动寻找光斑 ????? 9.鼠标定位测试点
10.良好的射线屏蔽????11.超大样品腔????? ?12.测试口安全防护
X荧光镀层测厚仪 Thick800A特点
1.可测试0.005μm;
2.准直孔达到0.1mm以内,测试光斑0.2mm以内;
3.电子高度感应器;
4.微小光斑的自制铜光管;
5.高精度样品移动平台。
型号:Thick 800A;
元素分析范围从硫(S)到铀(U);
一次可同时分析24个元素,五层镀层;
分析检出限可达2ppm,可测试0.005μm;
分析含量一般为2ppm到99.9;
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同);
任意多个可选择的分析和识别模型;
相互独立的基体效应校正模型;
多变量非线性回收程序;
多次测量重复性可达0.1;
长期工作稳定性可达0.1;
度适应范围为15℃至30℃;
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源;
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm;
重量:90 kg。