美国CDEResMap四点探针电阻率面电阻测试系统
美国CDEResMap四点探针电阻率面电阻测试系统
产品价格:¥9999.00(人民币)
  • 规格:完善
  • 发货地:上海上海
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  • 最小起订量:1
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    会员级别:试用会员
    认证类型:企业认证
    企业证件:通过认证

    商铺名称:上海瞬渺光电技术有限公司

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    商品详情
      产品参数
      品牌CDE
      商品编号(bn)ResMap 178
      分类(cat_id)四探针 四点探针
      库存(store)1
      上架(marketable)
      上架时间(uptime)2015.11
      应用1.薄片电阻
      应用2.方块电阻
      应用3.掺杂浓度
      应用4.掺杂浓度
      应用5.I/V测试
      数据采集THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔
      电阻率测试范围低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上
      主要测试内容电阻值测试系统
      可售卖地全国
      型号ResMap 178

      CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的



      CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)
      CDE 提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速,精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力,即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作,双针头切换。太阳能使用可支持自动Loader,300mm 机台可使用Front End,最多扩充3个量测单元,支持Semi标准接口。



      光伏测试专用美国ResMap四点探针
      CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与
      传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良
      好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳
      (铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精
      确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配
      合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且
      可以Recipe设定更换
      CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。



      主要特点: 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全
      美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪(Four point probe(4PP))
      设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)
      主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap



      规格:
      1. Pin material: Tungsten Carbide.
      2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.
      3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜,半导体材料)
      设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量,半导体,光伏
      特点:
      1)针尖压力一致
      2)适用于各种基底材料
      3)友好的用户界面
      4)快速测量
      5)数据可存储

      应用:
      1)方块电阻

      2)薄片电阻

      3)掺杂浓度

      4)金属层厚度

      5)P/N类型

      6)I/V测试

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