马尔Perthometer M2粗糙度仪优质经销商

该仪器的操作基于经过验证的功能目录，可以非常容易地选择测量条件，语言和记录内容等仪器设置。 因此，Perthometer M2提供最大的舒适性和灵活性。

与Perthometer M1相比，该仪器不仅满足了所选参数的确定和记录要求，而且还使得DIN / ISO / JIS规定的大部分参数和特性曲线可用于评估轮廓的评估。

此外，Perthometer M2提供了一个集成的存储器，用于多达200个测量结果，并且能够实现容差监测，垂直刻度选择和用于峰值计算计算的不对称交叉线的设置。

德国马尔 MarSurf M 2便携式粗糙度仪让您得到最到的测量功能和高效的测量灵活性.与Perthometer M1便携式粗糙度仪对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。

一般规格：

测量范围可达150μm（6000μin）
单位μm/μin可选
标准：DIN / ISO / JIS和CNOMO（Motif）可选
根据DIN EN ISO 4288 / ASME B461：1.75 mm，5.6 mm，17.5 mm（.07 in。，.22 in。.7 in）的运行长度;根据EN ISO 12085：1 mm，2 mm，4 mm，8 mm，12 mm，16 mm
采样长度的选择范围为1到5
自动选择符合标准的过滤器和运行长度
根据DIN EN ISO 11562的相位校正型材过滤器
截止0.25 mm / 0.80 mm / 2.50 mm（.010 in / .032 in / .100 in）
可选择短截止
根据DIN / ISO / SEP的参数：Ra，Rz，Rmax，Rp，Rq，Rt，R3z，Rk，Rvk，Rpk，Mr1，Mr2，Mr，Sm，RPc;按照JIS：Ra，Rz，Ry，Sm，S，tp;主题参数：R，Rx，Ar，W，CR，CF，CL（三区测量）
显示和测量记录中的公差监控
自动或可调缩放
印刷R型材（ISO / JIS），P型材（MOTIF），材料比率曲线，测量记录
测量的日期和/或时间的输出
集成内存，最多可达200??次测量
动态拾音校准
阻止仪器设置，防止意外修改以及密码保护的可能性

Mahr Perthometer M2精密粗糙度仪出售，该仪器操作是基于久经验证的强大功能t, 使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M 2便携式粗糙度仪让您得到最到的测量功能和高效的测量灵活性.Perthometer M1仪对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。

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