德国马尔Perthometer M2粗糙度测量仪

Perthometer M2粗糙度测量仪特点

1、高精度电感传感器
2、段码液晶显示器，具有背光功能
3、人机对话，界面直观、操作极其简单
4、采用DSP芯片进行控制和数据处理，速度快，功耗低
5、内置锂离子充电电池及控制电路，容量高、无记忆效应，充电时 间短，连续工作时间长，大于20小时
6、机电一体化设计，体积小，重量轻，使用方便快捷
7、带有测值存储及存储数据查询功能
8、内置标准RS232接口可连接时代TA220s打印机，可打印全部参数
9、具有自动关机、多种提示说明信息
10、可选配曲面传感器、小孔传感器、深槽传感器、测量平台、接长杆等附件菜单操作方式
Perthometer M2粗糙度测量仪技术规格：
测量范围高达150 μm （6000 μin）
测量单位 μm/μin 可选
评定标准: DIN/ISO/JIS 和CNOMO （Motif） 可选
依照 DIN EN ISO 4288/ASME B461标准的测量长度选择: 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm （0,07 in; 0,22 in; 0,7 in）;依照 EN ISO 12085标准: 1 mm; 2 mm; 4 mm; 8 mm; 12 mm; 16 mm
截止波长可从 1 至5自由选择
完全依照标准的测量波长及测量长度自动选择
依照 DIN EN ISO 11562 标准的相位修正轮廓滤波器
可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm （0,01 in/0,032 in/0,100 in）
可选择短截止波长
依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数: Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc; 依照 JIS标准的评定参数: Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif 标准的评定参数: R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL （3-区域测量）
可显示公差及输出测量报告中
显示比例可自动或手动选择
可打印R-轮廓（ISO/JIS）, P-轮廓（Motif）, 材料率曲线, 等测量报告
测量报告可输出测量日期及时间
内置存储卡可存储200组测量数据
动态传感器校准
锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护
笃挚仪器公司：
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