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2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件(例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件)的检定和测试而设计。 它们提供的功率、精度、速度、灵活性和易用性,可提高研发、生产测试和可靠性环境中的效率。 有两种仪器可用,提供高达 3000V 或高达 2000W 的脉冲电流功率。
型号 | 通道 | 电流源/量程 | 电压源/量程 | 测量分辨率(电流/电压) | 电源 |
---|---|---|---|---|---|
2651A | 1 | 50A | 40V | 100fA / 100nV | 2000 W |
2657A | 1 | 120mA | 3000V | 1fA / 100nV | 180 W |
特点 |
优势 |
高度灵活的四象限电压和电流源/负载,与高精度电压表和电流表相耦合 | 提供相比同类产品颇具优势的性能,具有 6? 位分辨率。 |
源或阱 (2651A) 脉冲功率高达 2000W(±40V、±50A),或直流电源高达 200W(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A);轻松连接两个器件(串联或并联)创建高达 ±100A 或 ±80V 的解决方案 | 支持功率半导体、HBLED、光学设备、太阳能电池、GaN、SiC 和其他复合材料与设备的检定/测试。应用范围包括半导体接点温度检定;高速、高精度数字化;电迁移研究;以及高电流、高功率设备测试。 |
源或阱 (2657A) 直流或脉冲功率高达 180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA) | 提供功率半导体器件检定和测试所需的高压,包括 GaN、SiC 及其他复合材料和器件、高达 3kV 的故障和漏电测试以及亚毫秒瞬态检定。 |
内置基于网络浏览器的软件 | 支持通过任何浏览器、任何计算机、从全球任何地方进行远程控制。 |
有数字化或积分测量模式可供选择 | 支持精确检定瞬态和稳态行为,包括快速变化的热效应。 |
TSP(测试脚本处理)技术 | 可以与 2657A 型与 2600B 系列型号轻松地进行系统集成。 |
TSP-Link 通道扩展总线 | 让多台 2651A 和 2657A 与所选 2600B 系列 SMU 仪器组合成多达 32 条通道的集成系统。 |
兼容于 8010 型高功率设备测试夹具和 8020 型高功率接口面板 | 为封装部件或晶片级高功率设备测试提供安全而方便的连接。 |
免费的测试脚本构建器软件工具 | 帮助您创建、修改、调试和存储 TSP 测试脚本。 |
选配的 ACS 基础半导体元器件检定软件 | 开发、质量检验或故障分析期间执行封装部件检定时,较大限度地提高工作效率。 |